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    凯发k8国际上新|高真空检漏仪全新升级

    2025-07-17

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    凯发k8国际上新啦 高真空检漏仪2.0

    01产品介绍

    高真空检漏仪是透射电镜原位系统的重要配套设备，在进行每一次原位实验时，都必须经过高真空检漏仪的检漏测试，以确保原位样品杆及原位芯片的密封状态，防止对电镜产生损坏。因此，高真空检漏仪的可靠性、单次检漏的耗时是影响客户体验的重要因素。凯发k8国际科技秉持客户第一的理念，对产品持续进行迭代升级。希望客户不仅能用好原位系统，也希望原位系统越来越好用。

    02设计优化：经过持续不断的设计优化，凯发k8国际高真空检漏仪迎来了2.0版本，检漏耗时及极限真空等性能均得到了提升。

     

    ①检漏耗时减少：达到4.6×10-6hPa，耗时减少30%；达到1.0×10-6hPa，耗时减少50%。

    （测试数据源于凯发k8国际LAB，@26℃）

    ②极限真空提升：陆续在工作20h，真空值~10-8hPa，相同测试时间内的真空值提升一个数量级。

    （测试数据源于凯发k8国际LAB，@26℃）

     

    配置清单

    序号

    名称

    数量

    1

    可视化高真空检漏仪腔体（兼容指定电镜）

    1套

    2

    高真空预抽系统

    1套

    3

    高分辨显微系统：自动对焦相机、数码显示屏、高分辨显微镜、照明同轴光源

    1套

    4

    三维移动平台系统

    1套

    5

    捡漏仪支架及柜体

    1台

     

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